Konfokalmikroskopie

  • Messgerät: Nanofocus µsurf custom
  • Messmethode: Konfokalmikroskopie
  • Norm: DIN EN ISO 25178 (flächenhafte 3D-Oberflächenbeschaffenheit/Rauheitsmessung)
  • Einzelmessfeldgrößen: 320 x 320 µm bis 3,2 x 3,2 mm
  • Kamera-Auflösung: 1 Megapixel
  • 3-Farb-LED-Beleuchtungsmodul (RGB)
  • Max. Masse des Messobjektes: 5 kg
  • Stitching: Erfassung großer Oberflächen durch Zusammensetzen von Einzelmessungen
  • Auswertesoftware: Digital Surf MountainsMap® 6.2
     

Anwendungsmöglichkeiten

  • Flächenhafte 3D-Rauheitsmessung: Bestimmung einer Vielzahl von Oberflächenkenngrößen und Texturparametern
  • 3D-Kontur- und Profilmessung
  • Vermessung von Strukturen in allen drei Raumrichtungen
  • Vermessung, Bewertung und statistische Auswertung von z.B. Kratzern, Verschleißspuren, Oberflächenfehlern u.a.
  • Erstellung tiefenscharfer dreidimensionaler Farbbabildungen
  • 3D-Defektdichtebestimmung/Partikelzählung mit < 1 µm Auflösung über mehrere cm2 Fläche inkl. statistischer Auswertung („LAHR-Mapping“)

 

Scan der Verschleißspur an einer Feingoldschicht (Pin-on-disc-Tribometer, d = 2 mm), aus 16 Einzelscans mittels „Stitching“ zusammengesetzt

Ansprechpartner

Dipl.-Ing. (FH) Martin Balzer | DW 401
balzer@fem-online.de

Dipl.-Ing. (FH) Herbert Kappl | DW 403
kappl@fem-online.de