
Konfokalmikroskopie
- Messgerät: Nanofocus µsurf custom
- Messmethode: Konfokalmikroskopie
- Norm: DIN EN ISO 25178 (flächenhafte 3D-Oberflächenbeschaffenheit/Rauheitsmessung)
- Einzelmessfeldgrößen: 320 x 320 µm bis 3,2 x 3,2 mm
- Kamera-Auflösung: 1 Megapixel
- Max. Masse des Messobjektes: 5 kg
- Stitching: Erfassung großer Oberflächen durch Zusammensetzen von Einzelmessungen
- Auswertesoftware: Digital Surf MountainsMap® 7.2
Anwendungsmöglichkeiten
- Flächenhafte 3D-Rauheitsmessung: Bestimmung einer Vielzahl von Oberflächenkenngrößen und Texturparametern
- 3D-Kontur- und Profilmessung
- Vermessung von Strukturen in allen drei Raumrichtungen
- Vermessung, Bewertung und statistische Auswertung von z.B. Kratzern, Verschleißspuren, Oberflächenfehlern u.a.
- Erstellung tiefenscharfer dreidimensionaler Farbbabildungen
- 3D-Defektdichtebestimmung/Partikelzählung mit < 1 µm Auflösung über mehrere cm2 Fläche inkl. statistischer Auswertung („LAHR-Mapping“)
Scan der Verschleißspur an einer Feingoldschicht (Pin-on-disc-Tribometer, d = 2 mm), aus 16 Einzelscans mittels „Stitching“ zusammengesetzt
Ansprechpartner
Dipl.-Ing. (FH) Martin Balzer | DW 401
balzer@fem-online.de
Dipl.-Ing. (FH) Herbert Kappl | DW 403
kappl@fem-online.de